光电耦合器的检测方法

　　笔者将多年来常用的单表测光电耦合器的方法介绍给大家。此法仅用一只500型万用表便可直接测出光耦好坏。实为方便之举。　　具体测试方法仍以彩电中常用的PC817为例，其内电路如图l所示，基本检测过程如下：

　　用Rxlk挡测①、②脚内二极管是否完好，再测③、④端正反向电阻应为开路状态∞(R×lk挡表内电池仅1.5V);再用R×10k挡测①、②端正向电阻，阻值较小，而反向电阻应为无穷大。用黑表针接④脚，红表针接③脚时应为无穷大的电阻，相反方向测量时，随③、④脚内三极管两极ce的稳压特性有别，一般表中指针会动，与普通小功率硅三极管ce间稳压特性相似。不能千篇一律，但可参考。

　　经过以上初测后，就可进入实际测试，见图2，用500型表Rxl挡，红表针接②脚，黑表针(黑测试笔，上同)接①脚。此时表中有一阻值显示，然后将两表针尖向③、④端靠拢并接触良好，使③、④脚导通电阻与①、②脚导通电阻并联，表中电阻值会减小，否则光耦损坏。如表中电阻变化不多，即③、④脚导通内阻较大，应慎用或不用。此外还可以用RxlO挡，但Rxl00挡和Rxlk两挡不宜作此项测量，因其提供给光耦内二极管的电流太小，③、④脚导通电阻很大，在表中反应甚微。附表是笔者对两只817光耦用500-4型表Rx1、Rxl0挡所测数据，供读者实践中参考(万用表及光耦产地不同，略有差异)。

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